出國期間

2007-09-25 至 2007-10-04

前往地區

  • 日本

出國人數

共 2 位

基本資料
系統識別號 C09603577
主題分類 科學技術
施政分類 國家發展及科技
計畫名稱 96年度台日技術合作計畫「結晶矽與薄膜矽太陽光電模組性能與安全檢測技術研究」
報告名稱 結晶矽與薄膜矽太陽光電模組性能與安全檢測技術研究
電子全文檔
報告日期 2007-12-12
報告書頁數 20
其他資料
出國期間 2007-09-25 至 2007-10-04
前往地區
  1. 日本
參訪機關 日本電氣安全環境研究所(JET)
出國類別 其他
關鍵詞 結晶矽光電模組,薄膜光電模組
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部標準檢驗局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
蔡宗傑 經濟部標準檢驗局 第六組 技士 薦任
楊紹經 經濟部標準檢驗局 第六組 科長 薦任
報告內容摘要
此次赴日本JET研修參與『結晶矽與薄膜矽太陽光電模組性能與安全檢測技術研究』訓練,為期10天(96年9月25日至10月4日),其中扣除來回交通日及週六及週日外實際研修時間為6天,研修單位為日本電氣安全環境研究所(JapanElectricalSafety EnvironmentTechnologyLaboratories,簡稱”JET”),研修內容主要以IEC61215(結晶矽陸上太陽光電模組-設計確認和型式認可)及IEC61646(薄膜陸上太陽光電模組-設計確認和型式認可)等標準之內容解說及重要檢測項目之實測為主,亦研習日本JET之太陽光電模組的驗證制度及標準件的校正體系及IEC61730(太陽光電模組之安全確認)標準內容。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09603577
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