| 近年來精密儀器發展中心以累積多年之光、機、電及儀器整合技術為基礎,已於衛星之遙測酬載系統領域中獲取相當之技術經驗,以此基礎並於2003年開發出國內第一套多光譜機載取像儀器VCDi,跨出國人自製遙測儀器的第一步。2003年SPIE(國際光學工程學會)於八月三日至八月八日在美國加州聖地牙哥舉行第四十八屆年會,遙測與太空技術及其他光學與光電技術均列為研討主題,並同時舉辦相關產品技術展覽與發表,其研討與展覽之主題內容與本中心發展光學遙測酬載意旨頗為契合。此行任務為進一步掌握國際遙測技術研究現況與發展趨勢,並蒐集相關廠商資料與尋求可能合作對象,以作為中心遙測計畫執行基礎及我國未來精密儀器產業技術發展之依據。本屆SPIE研討會規模盛大,參加發表的論文與參展的廠商十分眾多。此次行程中除了參與各項遙測技術議程,蒐集遙測領域最新發表之研究論文,作為中心未來遙測系統儀器研發計畫的參考之外,也訪談了一些參加研討會技術展覽之廠商,蒐集遙測儀器與相關零組件的資料,並透過交流相互了解彼此相關之技術與合作空間,為未來中心遙測系統發展提供國際合作之參考。在研討會後也順道拜訪Newport公司,參觀光學工廠與機械工廠,討論大口徑鏡片之減重設計、加工程序與檢測方 |