出國期間

2004-06-13 至 2004-06-27

前往地區

  • 美國

出國人數

共 2 位

基本資料
系統識別號 C09302465
主題分類 標準檢驗
施政分類 標準檢驗
計畫名稱 參加美國專利商標局主辦2004年春季「訪問學者計畫」
報告名稱 參加美國專利商標局主辦2004年春季「訪問學者計畫」
電子全文檔
報告日期 2004-09-21
報告書頁數 182
其他資料
出國期間 2004-06-13 至 2004-06-27
前往地區
  1. 美國
參訪機關
出國類別 其他
關鍵詞 專利,審查,檢索,遺傳資源,傳統知識,醫藥專利,用途發明
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部智慧財產局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
張睿哲 經濟部智慧財產局 專利二組 專利審查官 薦任
張仁平 經濟部智慧財產局 專利三組 專利審查官 薦任
報告內容摘要
美國專利商標局於2004年6月14日至25日於華盛頓舉辦2004年春季訪問學者計劃(VisitingScholarsPrograms),共有來自25個國家34位從事於智慧財產權領域的人士與會,包括高階行政主管、專利審查官、商標審查官、律師等。課程內容含括專利、商標、著作權、營業秘密、技術移轉、地理標示及相關國際條約、議題,上課的型態除了課堂授課外,還包括實地訪談、審查實作與小組討論、法院以及上訴機關的參觀等,非常多元化。美國在有關生物技術專利審查之前案檢索、遺傳資源與傳統知識的保護策略、醫療相關發明的審查以及用途發明專利的保護等議題上的經驗與做法非常值得我國借鏡。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09302465
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