出國期間

2005-08-06 至 2005-08-15

前往地區

  • 美國

出國人數

共 2 位

基本資料
系統識別號 C09403120
主題分類 科學技術
施政分類 其他
計畫名稱 赴美國芝加哥市參加2005IEEEEMC研討會
報告名稱 「赴美國芝加哥市參加2005IEEEEMC檢測技術研討會」出國報告
電子全文檔
報告日期 2005-11-11
報告書頁數 14
其他資料
出國期間 2005-08-06 至 2005-08-15
前往地區
  1. 美國
參訪機關 美國IEEEEMC協會
出國類別 其他
關鍵詞 電磁相容
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部標準檢驗局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
謝翰璋 經濟部標準檢驗局 第六組 簡任技正 簡任
唐永奇 經濟部標準檢驗局 第六組 技士 薦任
報告內容摘要
EMC最大的活動都是在美國舉行,今年也如往年一般,就在美國的芝加哥舉辦,也許經過911的洗禮之後,參加活動的人數似乎有比較少些;但對本局而言,今年卻是最盛大的一年:陳誠章技士參與一篇論文的發表、而唐永奇技士在前三天參加日本VCCI的研討會,介紹國內的EMC發展情形,後半段則協助國內將在今年舉辦亞太EMC研討會的推廣工作,至於謝翰璋技正則代表國內IEEEEMC分會主席,主持今年亞太EMC研討會的現場推廣招商工作。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09403120
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