C09404414-「赴美國參加2005年IEEE電磁相容技術研討會」出國報告

出國期間

2005-08-07 至 2005-08-15

前往地區

美國

出國人數

共 1 位

基本資料
系統識別號	C09404414
主題分類	行政管理
施政分類	研究發展
計畫名稱	赴國外參加IEEE電磁相容技術研討會
報告名稱	「赴美國參加2005年IEEE電磁相容技術研討會」出國報告
電子全文檔	C09404414_1.doc
報告日期	2005-11-14
報告書頁數	9

其他資料
出國期間	2005-08-07 至 2005-08-15
前往地區	美國
參訪機關	IEEEEMC研討會
出國類別	其他
關鍵詞	EMC

計畫主辦機關資訊

計畫主辦機關

經濟部標準檢驗局

出國人員

姓名	服務機關	服務單位	職稱	官職等
陳誠章	經濟部標準檢驗局	第六組	技士	薦任

報告內容摘要
一年一度的EMC國際研討會今年在美國芝加哥舉行,本局為電氣產品電磁相容(EMC)之主管單位,必須了解目前國際電磁相容之趨勢,以便政策上能有所因應,我國因為並非國際標準組織之會員國,因此資訊取得更是不易,更是不能在此一全球指標性之會議缺席。這次行程中發現ICEMC、EM　NUMERICAL、ＮEARFIELD量測有著大量論文在討論,畢竟任何事情之預防必定往源頭走,EMC當然也不例外。
前往原始報告頁面：http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09404414

報告內容摘要

一年一度的EMC國際研討會今年在美國芝加哥舉行,本局為電氣產品電磁相容(EMC)之主管單位,必須了解目前國際電磁相容之趨勢,以便政策上能有所因應,我國因為並非國際標準組織之會員國,因此資訊取得更是不易,更是不能在此一全球指標性之會議缺席。這次行程中發現ICEMC、EM　NUMERICAL、ＮEARFIELD量測有著大量論文在討論,畢竟任何事情之預防必定往源頭走,EMC當然也不例外。

前往原始報告頁面：http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09404414