出國期間

2006-05-11 至 2006-05-18

前往地區

  • 日本
  • 美國

出國人數

共 2 位

基本資料
系統識別號 C09501787
主題分類 科學技術
施政分類 國家發展及科技
計畫名稱 赴IBM日本及美國研發實驗室考察IC-EMC技術移轉相關事宜
報告名稱 赴日本美國IBM考察積體電路電磁波相容驗證平台出國報告
電子全文檔
報告日期 2006-07-03
報告書頁數 7
其他資料
出國期間 2006-05-11 至 2006-05-18
前往地區
  1. 日本
  2. 美國
參訪機關 日本IBM美國IBM
出國類別 其他
關鍵詞 IC-EMC,Signalintegrity,powerintegrity,EMC,SoC-EMC,電磁相容,積體電路之電磁相容,系統晶片之電磁相容,信號完善性,功率完善性,信號完整性
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部標準檢驗局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
唐永奇 經濟部標準檢驗局 第六組 技士 薦任
陳秋國 經濟部標準檢驗局 第六組 技士 薦任
報告內容摘要
本次赴日本與美國IBM參訪主要目的,是實際去了解該公司在積體電路之電磁干擾(IC-EMC)量測與模型建立這個領域,目前技術發展情況,及洽談技術轉移內容並促使其為台灣建立完整的「IC元件至系統產品整合的電磁相容(EMC)驗證平台中心」,俾利向經濟部工業局工業合作小組提出我們的提案計畫,我們的IC-EMC發展目標是針對台灣的IC產業結構發展,想將IC(die、SoC、SiP)、封裝、電路板、系統產品的產業鏈有關EMC問題,作整合與連結,建構一個完整的EMC驗證平台,在設計階段,透高階電腦模擬即可驗證及解決EMC、信號完善性、電源完善性等問題、使產品設計的人,只需要專注考慮性能設計的問題,而電磁相容相關的問題可以透過此「IC元件至系統產品整合的電磁相容(EMC)驗證平台中心」來解決,加快產品開發速度與降低產品開發風險。為達到此目標,我們向IBM提出二大要求,請其提出解決方案予我們參考,第一:請參考我們提出的「元件至系統整合的EMC驗證平台中心」架構,提出一個完整的系統解決方案。第二:此驗證平台中心的效能至少必須維持50個案件能同時平行處理,且基於智財權的考量,電腦終端機必須能夠設在被服務廠商公司內。過程中,經多次討論溝通後,最後,IBM同意提供給我們,他們公司的解決方案,由於他們的解決方案大部份都是自行開發的,是用來解決從晶片到超級電腦應用的電磁相關問題,不止軟體工具完整、執行速度性能良好,更重要的事,由於是同一家公司開發的產品,在軟體間相互溝通的介面、參考點、不確定度是完全相容的,這些特點,是符合我們期望的解決方案架構。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09501787
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