2006-10-15 至 2006-10-22
共 6 位
系統識別號 | C09502899 |
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主題分類 | 行政管理 |
施政分類 | 輔助事務 |
計畫名稱 | 赴美國專利局(USPTO)研習有關「美國專利及介紹本國專利法修訂趨勢」(本局95年度科專計畫) |
報告名稱 | 美國專利之檢索系統、審查基準及審查制度簡介 |
電子全文檔 | |
報告日期 | 2007-01-22 |
報告書頁數 | 50 |
出國期間 | 2006-10-15 至 2006-10-22 |
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前往地區 |
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參訪機關 | 美國專利商標局(USPTO) |
出國類別 | 其他 |
關鍵詞 | 專利檢索,eDAN,EAST,MPEP,審查基準,設計,design,GUI,Icon,再審查,reexamination,訴願,衝突委員會,BPAI,審查品質,品質覆核 |
備註 | 以核簽數計算 |
計畫主辦機關 | 經濟部智慧財產局 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||
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出國人員 |
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本次出國主要係研習美國專利商標局有關專利方面之諸多典章制度,包括有專利檢索系統、專利審查基準(MPEP)、機械與新式樣之審查實務、專利審查之品質覆核、專利再審查制度及訴願衝突委員會簡介等,其中檢索系統重點在於使用端之訓練,MPEP則重在基本定義之解說,有輔以實務說明,審查品質覆核、專利再審查制度及訴願衝突委員會則僅簡述基本制度,為課程排得頗為緊湊,內容相當多是此次研習特點。 |
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