出國期間

2006-08-26 至 2006-10-06

前往地區

  • 法國

出國人數

共 1 位

基本資料
系統識別號 C09600133
主題分類 科學技術
施政分類 國家發展及科技
計畫名稱 經濟部95年派員赴法國研習計畫-晶片層級-電磁相容量測與行為模型的建立
報告名稱 經濟部95年臺法技術合作計畫「晶片層級之電磁相容(IC-EMC)量測與行為模型的建立」
電子全文檔
報告日期 2006-12-04
報告書頁數 72
其他資料
出國期間 2006-08-26 至 2006-10-06
前往地區
  1. 法國
參訪機關 法國土魯斯的國立應用科學研究所(INSA)
出國類別 研究
關鍵詞 IC-EMC,IC-EMI,IC-EMS,IC-EMCmodeling,IC-EMCcharacterization,積體電路電磁相容,積體電路電磁干擾,積體電路電磁干擾模型建立,積體電路電磁電磁耐受模型建立
計畫主辦機關資訊
計畫主辦機關 經濟部標準檢驗局
出國人員
姓名 服務機關 服務單位 職稱 官職等
陳秋國 經濟部標準檢驗局 第六組 技士 薦任
報告內容摘要
本次赴法研習主要是為學習積體電路電磁相容(IC-EMC)的量測與其模型建立,並蒐集標準及實驗室建立相關的資料,以利可以加速本局積體電路電磁相容驗證實驗室檢測能量的建立。為了進一步了解及驗證課堂上的理論,在IC-EMI及IC-EMS量測分別以S12X及PIC18f452當案例實際進行研習,在IC-EMI模型的建立,則以PIC18f452為案例,對TEMcell,1Ohm/150Ohm法,在TEMCell法模型估測部份,所使用的待測IC,其工作頻率為10MHz,實驗時,將測試板放在TEMCell上作量測並建立其模型,所得的模型,經使用spice模擬,得到的實驗結果,在頻率範圍10MHz~200MHz內之工作頻率整數倍的頻率點,除了10MHz、20MHz外,其預測值與量測值的誤差均分別為11.218dBV、5.889dBV,其餘都約在3dBV以內,且所預估的電磁干擾波形,其整體的趨勢、形狀、電磁干擾發生的頻率點,都非常相近實際量測的結果。在1Ohm/150Ohm模型估測部份,在10M~200MHz,其模型估測的結果,所預估的電磁干擾波形,其整體的趨勢、形狀、電磁干擾發生的頻率點,亦都非常相近實際量測的結果。此外,我們亦介紹歐洲2006年EMC研討會、國際標準的發展趨勢與近況,及未來標準檢驗局積體電路電磁相容實驗室發展的基礎建設的規劃。
前往原始報告頁面:http://report.nat.gov.tw/ReportFront/report_detail.jspx?sysId=C09600133
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